| 品牌 | 正臺ZTCK | 適用領(lǐng)域 | 科研 |
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| 溫度范圍 | -40～+150℃ | 溫度波動度 | ±0.5℃ |
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| 溫度均勻度 | ≤±2.0% | 額定電壓 | 380V |
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| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
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一、低壓循環(huán)冷熱沖擊測試箱用途： 適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊），適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.
二、低壓循環(huán)冷熱沖擊測試箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1. GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
2. GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
3. GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
4. GB2423.1 低溫試驗、試驗A
5. GB2423.2 高溫試驗、試驗B
6. GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N
7. IEC68-2-14 試驗N 8. GJ標(biāo)GJB150.3-86
9. GJ標(biāo)GJB150.4-86 10.GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法 11.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法
三、控制方式與特色 利用低溫及高溫蓄冷熱儲存槽，依動作需要打開DAPER，達(dá)到快速沖擊效果；平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTC），以P.I.D.方式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量，故能長期穩(wěn)定使用。
五、技術(shù)參數(shù)：
1、 溫度范圍：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃ 2、 溫度上限：+200℃ 3、 溫度下限：-75℃ 4、 溫度偏差：±2℃ 5、 溫度波動度：±0.5℃ 6、 溫度恢復(fù)時間：5min 7、 溫度恢復(fù)條件：高溫+150℃保溫≥30min低溫-40℃保溫≥30min. 8、 試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動 9、試品重量：≤5kg 10、噪音：（dB）≤67 11、電源：AC380V±10％/50/60Hz+保護接地
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